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文章概述：X 射线荧光光谱仪：用于分析物姆铝矿中的元素成分和含量。
电子探针分析仪：可对物姆铝矿中的微小区域进行元素分析。
原子吸收光谱仪：用于测定物姆铝矿中特定元素的含量。
电感
X 射线荧光光谱仪：用于分析物姆铝矿中的元素成分和含量。
电子探针分析仪：可对物姆铝矿中的微小区域进行元素分析。
原子吸收光谱仪：用于测定物姆铝矿中特定元素的含量。
电感耦合等离子体发射光谱仪：可同时分析多种元素。
X 射线衍射仪：用于物姆铝矿的物相分析。
扫描电子显微镜：观察物姆铝矿的微观结构和形貌。
