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文章概述：X 射线衍射分析：通过测量 X 射线在晶体中的衍射角度和强度，确定物质的晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜（SEM）：观察样品表面的微观结构和形貌，可用于检测物相分离的情况。
差示扫
X 射线衍射分析：通过测量 X 射线在晶体中的衍射角度和强度，确定物质的晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜（SEM）：观察样品表面的微观结构和形貌，可用于检测物相分离的情况。
差示扫描量热法（DSC）：测量样品在加热或冷却过程中的热流变化，可用于检测相变和物相分离。
热重分析（TGA）：测量样品在加热过程中的质量变化，可用于检测物相分离过程中的质量损失。
傅里叶变换红外光谱（FTIR）：分析样品的化学键和官能团，可用于检测物相分离引起的化学变化。
