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文章概述：X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和物相组成。
扫描电子显微镜：用于观察材料的微观结构和表面形貌。
电子探针：用于分析材料的化学成分。
硬度计：用于测量材料的硬度。
拉伸试验机
X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和物相组成。
扫描电子显微镜：用于观察材料的微观结构和表面形貌。
电子探针：用于分析材料的化学成分。
硬度计：用于测量材料的硬度。
拉伸试验机：用于测量材料的拉伸性能。
冲击试验机：用于测量材料的冲击韧性。
热分析仪：用于分析材料的热性能。
