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文章概述：X 射线衍射仪：用于分析物理介质层的晶体结构。
扫描电子显微镜：可以观察物理介质层的表面形貌和微观结构。
原子力显微镜：用于测量物理介质层的表面粗糙度和形貌。
傅里叶变换
X 射线衍射仪：用于分析物理介质层的晶体结构。
扫描电子显微镜：可以观察物理介质层的表面形貌和微观结构。
原子力显微镜：用于测量物理介质层的表面粗糙度和形貌。
傅里叶变换红外光谱仪：分析物理介质层中的化学键和官能团。
拉曼光谱仪：检测物理介质层的分子结构和化学键。
热重分析仪：测量物理介质层在加热过程中的质量变化。
差示扫描量热仪：分析物理介质层的热性能。
万能材料试验机：测试物理介质层的力学性能。
硬度计：测量物理介质层的硬度。
摩擦磨损试验机：评估物理介质层的摩擦磨损性能。
