无位错晶体检测方法
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文章概述:X 射线衍射法:通过测量晶体对 X 射线的衍射图谱,分析晶体的结构和完整性。
光学显微镜观察:直接观察晶体表面的缺陷和位错。
电子显微镜分析:提供更详细的晶体结构信息。
红外光
X 射线衍射法:通过测量晶体对 X 射线的衍射图谱,分析晶体的结构和完整性。
光学显微镜观察:直接观察晶体表面的缺陷和位错。
电子显微镜分析:提供更详细的晶体结构信息。
红外光谱法:检测晶体中的化学键和官能团。
拉曼光谱法:研究晶体的振动模式和结构特征。