无损探伤报告检测仪器
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文章概述:X 射线探伤仪:用于检测金属、非金属材料及其制品的内部缺陷。
超声波探伤仪:可检测材料的内部缺陷、厚度等。
磁粉探伤仪:检测铁磁性材料表面和近表面缺陷。
渗透探伤剂:用于检
X 射线探伤仪:用于检测金属、非金属材料及其制品的内部缺陷。
超声波探伤仪:可检测材料的内部缺陷、厚度等。
磁粉探伤仪:检测铁磁性材料表面和近表面缺陷。
渗透探伤剂:用于检测非多孔性材料表面开口缺陷。
涡流探伤仪:检测导电材料表面和近表面缺陷。