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文章概述：X 射线衍射仪：用于分析材料的晶体结构和取向。
电子背散射衍射仪：可测量晶体的取向和织构。
中子衍射仪：对材料的微观结构和取向进行分析。
偏振光显微镜：观察材料的双折射现象，
X 射线衍射仪：用于分析材料的晶体结构和取向。
电子背散射衍射仪：可测量晶体的取向和织构。
中子衍射仪：对材料的微观结构和取向进行分析。
偏振光显微镜：观察材料的双折射现象，间接判断取向。
差示扫描量热仪：分析材料的热性能，与取向有关。
