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文章概述：X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和物相组成。
扫描电子显微镜：可以观察材料的表面形貌和微观结构。
透射电子显微镜：用于研究材料的微观结构和晶体缺陷。
原子力显微镜：可用于检
X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和物相组成。
扫描电子显微镜：可以观察材料的表面形貌和微观结构。
透射电子显微镜：用于研究材料的微观结构和晶体缺陷。
原子力显微镜：可用于检测材料的表面形貌和粗糙度。
拉曼光谱仪：用于分析材料的分子结构和化学键。
