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文章概述：X 射线衍射仪：用于分析物质的晶体结构，可确定无定形硅石的存在。
扫描电子显微镜：用于观察物质的表面形貌和微观结构。
热重分析仪器：可测量物质在加热过程中的质量变化，用于分析
X 射线衍射仪：用于分析物质的晶体结构，可确定无定形硅石的存在。
扫描电子显微镜：用于观察物质的表面形貌和微观结构。
热重分析仪器：可测量物质在加热过程中的质量变化，用于分析无定形硅石的热稳定性。
红外光谱仪：用于分析物质的化学键和官能团，可确定无定形硅石的化学组成。
比表面积分析仪：用于测量物质的比表面积，可了解无定形硅石的孔隙结构。
