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文章概述：X 射线荧光光谱仪：用于检测钨盘中的元素成分。
扫描电子显微镜：可以观察钨盘的表面形貌和微观结构。
硬度计：用于测量钨盘的硬度。
密度计：测量钨盘的密度。
分光光度计：检测钨盘
X 射线荧光光谱仪：用于检测钨盘中的元素成分。
扫描电子显微镜：可以观察钨盘的表面形貌和微观结构。
硬度计：用于测量钨盘的硬度。
密度计：测量钨盘的密度。
分光光度计：检测钨盘中的杂质含量。
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