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纹理组织检测仪器

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文章概述:光学显微镜:用于观察材料的微观结构和纹理组织。
扫描电子显微镜(SEM):可以提供高分辨率的表面形貌图像,帮助分析纹理的细节。
X 射线衍射仪(XRD):用于确定材料的晶体结构和相组成,对

光学显微镜:用于观察材料的微观结构和纹理组织。

扫描电子显微镜(SEM):可以提供高分辨率的表面形貌图像,帮助分析纹理的细节。

X 射线衍射仪(XRD):用于确定材料的晶体结构和相组成,对纹理组织的分析有一定帮助。

电子背散射衍射仪(EBSD):能够测量晶体取向和纹理,提供有关材料微观结构的信息。

原子力显微镜(AFM):可用于研究材料表面的纳米级纹理和形貌。

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中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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