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文章概述：X 射线衍射仪：用于分析岩石中矿物的种类和含量，从而确定纹层的组成和结构。
扫描电子显微镜：可以观察纹层的微观结构和形貌，提供关于纹层形成过程和环境的信息。
薄片显微镜：用于
X 射线衍射仪：用于分析岩石中矿物的种类和含量，从而确定纹层的组成和结构。
扫描电子显微镜：可以观察纹层的微观结构和形貌，提供关于纹层形成过程和环境的信息。
薄片显微镜：用于观察岩石薄片中的纹层特征，如纹层的厚度、颜色、纹理等。
地球化学分析仪：可以分析纹层中的元素组成和同位素比值，了解纹层形成时的地球化学环境。
岩心扫描仪：能够快速、非破坏性地获取岩心的图像和数据，包括纹层的分布和特征。
