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文章概述：X 射线衍射仪：通过测量晶体对 X 射线的衍射图谱，分析晶体的结构和位向关系。
电子背散射衍射仪：利用电子束在晶体中的散射现象，确定晶体的取向和位向关系。
透射电子显微镜：通过
X 射线衍射仪：通过测量晶体对 X 射线的衍射图谱，分析晶体的结构和位向关系。
电子背散射衍射仪：利用电子束在晶体中的散射现象，确定晶体的取向和位向关系。
透射电子显微镜：通过电子束穿过样品，观察晶体的微观结构和位向关系。
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