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文章概述：X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和位向。
电子背散射衍射仪（EBSD）：可测量晶体取向和位向变化。
激光干涉仪：可用于检测物体的位向变化。
X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和位向。
电子背散射衍射仪（EBSD）：可测量晶体取向和位向变化。
激光干涉仪：可用于检测物体的位向变化。
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