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文章概述：X 射线衍射仪：通过分析晶体的衍射图谱来确定位错的存在和类型。
透射电子显微镜：可以直接观察到位错的结构和分布。
扫描电子显微镜：用于观察材料表面的位错特征。
原子力显微
X 射线衍射仪：通过分析晶体的衍射图谱来确定位错的存在和类型。
透射电子显微镜：可以直接观察到位错的结构和分布。
扫描电子显微镜：用于观察材料表面的位错特征。
原子力显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌图像，包括位错。
电子背散射衍射仪：可用于分析晶体的取向和位错密度。
