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文章概述：X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和位错应变场。
电子显微镜：可以直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌和应变信息。
中子衍射仪：适用于研究材料
X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和位错应变场。
电子显微镜：可以直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌和应变信息。
中子衍射仪：适用于研究材料中的位错和应变。
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