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文章概述：X 射线衍射仪：用于检测晶体结构和位错密度。
电子显微镜：可观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：能够测量位错的高度和形貌。
激光多普勒测速仪：用于测量位错的运动速度。
X 射线衍射仪：用于检测晶体结构和位错密度。
电子显微镜：可观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：能够测量位错的高度和形貌。
激光多普勒测速仪：用于测量位错的运动速度。
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