位向效应检测范围
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文章概述:位向效应检测主要应用于晶体材料、金属材料、半导体材料等领域,用于研究材料的晶体结构、物理性能和化学性能等方面。常见的位向效应检测对象包括但不限于:晶体材料:如硅、锗、
位向效应检测主要应用于晶体材料、金属材料、半导体材料等领域,用于研究材料的晶体结构、物理性能和化学性能等方面。
常见的位向效应检测对象包括但不限于:
晶体材料:如硅、锗、砷化镓等。
金属材料:如铁、铜、铝等。
半导体材料:如硅、锗、砷化镓等。
陶瓷材料:如氧化铝、氧化锆等。
复合材料:如碳纤维增强复合材料、玻璃纤维增强复合材料等。