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文章概述：电子显微镜：用于观察位错的排列和分布情况。
X 射线衍射仪：可分析位错对晶体结构的影响。
原子力显微镜：能够提供位错的高分辨率图像。
扫描隧道显微镜：用于研究位错的微观结构
电子显微镜：用于观察位错的排列和分布情况。
X 射线衍射仪：可分析位错对晶体结构的影响。
原子力显微镜：能够提供位错的高分辨率图像。
扫描隧道显微镜：用于研究位错的微观结构。
光学显微镜：在一定程度上观察位错的排列。
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