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文章概述：X 射线衍射仪：通过测量 X 射线在晶体中的衍射图案，来确定晶体结构和位错密度。
电子显微镜：可以直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：用于测量材料表面的微观形貌和力学性
X 射线衍射仪：通过测量 X 射线在晶体中的衍射图案，来确定晶体结构和位错密度。
电子显微镜：可以直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：用于测量材料表面的微观形貌和力学性质。
声学显微镜：利用声波来检测材料内部的缺陷和位错。
内耗仪：专门用于测量材料的内耗，从而评估位错的运动和交互作用。
