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文章概述：电子显微镜：可用于观察材料中的位错结构和符号。
X 射线衍射仪：通过分析衍射图谱来确定位错的存在和类型。
原子力显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌图像，有助于检测位错。
电子显微镜：可用于观察材料中的位错结构和符号。
X 射线衍射仪：通过分析衍射图谱来确定位错的存在和类型。
原子力显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌图像，有助于检测位错。
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