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文章概述：X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和位错密度。
电子显微镜：可直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：用于研究材料表面的微观结构和位错。
拉曼光谱仪：可分析材料的化学键和晶
X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和位错密度。
电子显微镜：可直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：用于研究材料表面的微观结构和位错。
拉曼光谱仪：可分析材料的化学键和晶体结构。
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