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文章概述：电子显微镜：用于观察材料中的位错结构和分布。
X 射线衍射仪：可以分析晶体结构，确定位错的类型和密度。
原子力显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌图像，帮助检测位错。
扫描电子
电子显微镜：用于观察材料中的位错结构和分布。
X 射线衍射仪：可以分析晶体结构，确定位错的类型和密度。
原子力显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌图像，帮助检测位错。
扫描电子显微镜：用于观察材料的微观结构和表面特征。
透射电子显微镜：可以提供更详细的位错信息和晶体结构分析。
