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文章概述：X 射线衍射法：通过分析晶体结构中的衍射图谱来确定位错线的存在和交截情况。
电子显微镜法：利用电子束照射样品，观察位错线的形态和交截特征。
原子力显微镜法：通过测量样品表面
X 射线衍射法：通过分析晶体结构中的衍射图谱来确定位错线的存在和交截情况。
电子显微镜法：利用电子束照射样品，观察位错线的形态和交截特征。
原子力显微镜法：通过测量样品表面的原子力来检测位错线的位置和交截情况。
光学显微镜法：在光学显微镜下观察样品的微观结构，对位错线进行初步检测。
