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文章概述：X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱来确定位错的排列情况。
电子显微镜法：直接观察位错的形态和排列。
原子力显微镜法：可提供高分辨率的位错图像。
光学显微镜法：适用于较大
X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱来确定位错的排列情况。
电子显微镜法：直接观察位错的形态和排列。
原子力显微镜法：可提供高分辨率的位错图像。
光学显微镜法：适用于较大尺寸的位错观察。
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