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文章概述：X 射线衍射法：通过测量晶体的衍射图谱来确定位错宽度。
电子显微镜法：利用电子显微镜直接观察位错的形态和宽度。
原子力显微镜法：可以提供高分辨率的位错图像和宽度信息。
X 射线衍射法：通过测量晶体的衍射图谱来确定位错宽度。
电子显微镜法：利用电子显微镜直接观察位错的形态和宽度。
原子力显微镜法：可以提供高分辨率的位错图像和宽度信息。
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