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文章概述：X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱来确定位错结构。
电子显微镜法：直接观察材料中的位错结构。
原子力显微镜法：可以提供高分辨率的位错结构图像。
中子衍射法：适用于研究材
X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱来确定位错结构。
电子显微镜法：直接观察材料中的位错结构。
原子力显微镜法：可以提供高分辨率的位错结构图像。
中子衍射法：适用于研究材料中的位错结构。
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