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文章概述：X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱，确定位错核化的位置和密度。
电子显微镜法：直接观察晶体中的位错结构，包括位错线、位错环等。
原子力显微镜法：可以检测到微小的位错核化，并
X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱，确定位错核化的位置和密度。
电子显微镜法：直接观察晶体中的位错结构，包括位错线、位错环等。
原子力显微镜法：可以检测到微小的位错核化，并提供高分辨率的图像。
光学显微镜法：适用于较大尺寸的位错核化检测，但分辨率相对较低。
