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文章概述：X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱来检测位错缠结。
电子显微镜法：直接观察位错缠结的形态和分布。
光学显微镜法：适用于一些较大的位错缠结结构。
原子力显微镜法：可以提供
X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱来检测位错缠结。
电子显微镜法：直接观察位错缠结的形态和分布。
光学显微镜法：适用于一些较大的位错缠结结构。
原子力显微镜法：可以提供高分辨率的位错缠结图像。
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