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文章概述：硬度计：用于测量材料的硬度，可检测未滑移区的硬度变化。
显微镜：可用于观察未滑移区的微观结构和表面形貌。
X 射线衍射仪：用于分析材料的晶体结构，可检测未滑移区的晶体结构变化
硬度计：用于测量材料的硬度，可检测未滑移区的硬度变化。
显微镜：可用于观察未滑移区的微观结构和表面形貌。
X 射线衍射仪：用于分析材料的晶体结构，可检测未滑移区的晶体结构变化。
电子探针：可用于分析未滑移区的化学成分。
拉伸试验机：用于测量材料的拉伸性能，可检测未滑移区的力学性能变化。
