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微应力检测仪器

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文章概述:X 射线衍射仪:可以测量材料中的微观应力和晶格应变。
电子背散射衍射仪(EBSD):用于分析晶体结构和微观应力。
纳米压痕仪:可测量微小区域的硬度和弹性模量,间接反映微应力。
激光

X 射线衍射仪:可以测量材料中的微观应力和晶格应变。

电子背散射衍射仪(EBSD):用于分析晶体结构和微观应力。

纳米压痕仪:可测量微小区域的硬度和弹性模量,间接反映微应力。

激光拉曼光谱仪:通过分析拉曼散射光谱来检测微应力。

原子力显微镜(AFM):可以测量表面形貌和微观应力分布。

微应力检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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