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文章概述：X 射线衍射仪：用于分析材料的晶体结构和应力状态。
电子背散射衍射仪：可以测量材料的微观结构和应变分布。
激光干涉仪：用于测量微小的位移和应变。
扫描电子显微镜：可以观察材
X 射线衍射仪：用于分析材料的晶体结构和应力状态。
电子背散射衍射仪：可以测量材料的微观结构和应变分布。
激光干涉仪：用于测量微小的位移和应变。
扫描电子显微镜：可以观察材料的表面形貌和微观结构。
原子力显微镜：用于测量材料表面的形貌和力学性能。
