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文章概述：电子散斑干涉仪：用于测量物体表面的微小变形和位移。
应变片：通过粘贴在物体表面来测量应变。
激光多普勒测振仪：可测量物体的振动和位移。
X 射线衍射仪：用于分析材料的晶体结
电子散斑干涉仪：用于测量物体表面的微小变形和位移。
应变片：通过粘贴在物体表面来测量应变。
激光多普勒测振仪：可测量物体的振动和位移。
X 射线衍射仪：用于分析材料的晶体结构和应变。
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