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文章概述：电子显微镜：用于观察微小缺陷的形态和结构。
X 射线检测：可检测物体内部的缺陷。
超声波检测：适用于检测材料内部的缺陷。
磁粉检测：可发现铁磁性材料表面和近表面的缺陷。
渗透
电子显微镜：用于观察微小缺陷的形态和结构。
X 射线检测：可检测物体内部的缺陷。
超声波检测：适用于检测材料内部的缺陷。
磁粉检测：可发现铁磁性材料表面和近表面的缺陷。
渗透检测：检测表面开口缺陷。
光学显微镜：用于观察较小的缺陷。
