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微孪晶缀饰检测仪器

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文章概述:扫描电子显微镜:用于观察微孪晶的形态和分布。
电子背散射衍射仪:分析微孪晶的晶体结构和取向。
X 射线衍射仪:检测微孪晶的晶体结构和相组成。
原子力显微镜:测量微孪晶的表面

扫描电子显微镜:用于观察微孪晶的形态和分布。

电子背散射衍射仪:分析微孪晶的晶体结构和取向。

X 射线衍射仪:检测微孪晶的晶体结构和相组成。

原子力显微镜:测量微孪晶的表面形貌和粗糙度。

透射电子显微镜:提供微孪晶的高分辨率图像和结构信息。

微孪晶缀饰检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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