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文章概述：激光粒度仪：用于测量微粒的粒度分布和回降特性。
显微镜：观察微粒的形状、大小和团聚情况。
沉降天平：测量微粒在重力作用下的沉降速度和回降情况。
动态光散射仪：分析微粒的布
激光粒度仪：用于测量微粒的粒度分布和回降特性。
显微镜：观察微粒的形状、大小和团聚情况。
沉降天平：测量微粒在重力作用下的沉降速度和回降情况。
动态光散射仪：分析微粒的布朗运动和回降行为。
zeta 电位仪：测定微粒表面的电荷性质，对回降有一定影响。
