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文章概述：X 射线衍射仪：通过测量晶体的衍射图谱来分析微观应力。
电子背散射衍射仪：可以提供晶体取向和微观应力的信息。
中子衍射仪：适用于对材料内部微观应力的检测。
拉曼光谱仪：用于
X 射线衍射仪：通过测量晶体的衍射图谱来分析微观应力。
电子背散射衍射仪：可以提供晶体取向和微观应力的信息。
中子衍射仪：适用于对材料内部微观应力的检测。
拉曼光谱仪：用于分析材料中的分子振动和微观应力。
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