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微分迁移率检测仪器

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文章概述:微分迁移率分析仪:用于测量粒子在电场中的迁移率分布。
静电分级器:可根据粒子的电荷量和迁移率对其进行分类。
质谱仪:用于分析粒子的化学成分和分子量。

微分迁移率分析仪:用于测量粒子在电场中的迁移率分布。

静电分级器:可根据粒子的电荷量和迁移率对其进行分类。

质谱仪:用于分析粒子的化学成分和分子量。

微分迁移率检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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