内容页头部

微电子检测仪器

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:显微镜:用于观察微电子器件的微观结构和表面形貌。
X 射线衍射仪:用于分析微电子器件的晶体结构和晶格参数。
扫描电子显微镜:用于观察微电子器件的表面形貌和微观结构。
原子

显微镜:用于观察微电子器件的微观结构和表面形貌。

X 射线衍射仪:用于分析微电子器件的晶体结构和晶格参数。

扫描电子显微镜:用于观察微电子器件的表面形貌和微观结构。

原子力显微镜:用于测量微电子器件的表面形貌和粗糙度。

四点探针测试仪:用于测量微电子器件的电阻率和电导率。

霍尔效应测试仪:用于测量微电子器件的霍尔系数和载流子浓度。

光学显微镜:用于观察微电子器件的宏观结构和表面形貌。

热重分析仪:用于分析微电子器件的热稳定性和热分解行为。

差示扫描量热仪:用于测量微电子器件的热性能和相变温度。

傅里叶变换红外光谱仪:用于分析微电子器件的化学成分和官能团。

微电子检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

全站搜索

中析研究所