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文章概述：电子显微镜：可用于观察材料中的位错结构和分布。
X 射线衍射仪：可以分析晶体结构和位错密度。
原子力显微镜：能够检测表面形貌和位错。
扫描隧道显微镜：用于研究材料表面的原子
电子显微镜：可用于观察材料中的位错结构和分布。
X 射线衍射仪：可以分析晶体结构和位错密度。
原子力显微镜：能够检测表面形貌和位错。
扫描隧道显微镜：用于研究材料表面的原子结构和位错。
透射电子显微镜：提供高分辨率的位错图像。
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