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文章概述：X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和点阵参数。
电子衍射仪：可对微小区域进行点阵检测。
原子力显微镜：能够检测表面的点阵结构。
扫描隧道显微镜：用于高分辨率的点阵检测。
X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和点阵参数。
电子衍射仪：可对微小区域进行点阵检测。
原子力显微镜：能够检测表面的点阵结构。
扫描隧道显微镜：用于高分辨率的点阵检测。
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