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文章概述：X 射线衍射仪：用于分析物质的晶体结构。
热重分析仪：用于测量物质在加热过程中的质量变化。
差示扫描量热仪：用于测量物质在加热或冷却过程中的热量变化。
扫描电子显微镜：用于
X 射线衍射仪：用于分析物质的晶体结构。
热重分析仪：用于测量物质在加热过程中的质量变化。
差示扫描量热仪：用于测量物质在加热或冷却过程中的热量变化。
扫描电子显微镜：用于观察物质的表面形貌和微观结构。
元素分析仪：用于分析物质中的元素组成。
红外光谱仪：用于分析物质的化学键和官能团。
