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文章概述：X 射线衍射法：通过测量材料晶体结构的变化来检测外应力。
应变片测量法：使用应变片粘贴在被测物体表面，测量应变来间接评估外应力。
超声波检测法：利用超声波在材料中的传播特性
X 射线衍射法：通过测量材料晶体结构的变化来检测外应力。
应变片测量法：使用应变片粘贴在被测物体表面，测量应变来间接评估外应力。
超声波检测法：利用超声波在材料中的传播特性来检测外应力。
磁粉探伤法：适用于检测铁磁性材料的表面和近表面外应力。
渗透探伤法：用于检测非多孔性材料表面开口缺陷引起的外应力。
