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外生夹杂物检测仪器

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文章概述:光学显微镜:用于观察夹杂物的形态、大小和分布。
扫描电子显微镜(SEM):可提供更高分辨率的图像,有助于分析夹杂物的微观结构。
能谱仪(EDS):用于确定夹杂物的化学成分。
X 射线衍射

光学显微镜:用于观察夹杂物的形态、大小和分布。

扫描电子显微镜(SEM):可提供更高分辨率的图像,有助于分析夹杂物的微观结构。

能谱仪(EDS):用于确定夹杂物的化学成分。

X 射线衍射仪(XRD):可分析夹杂物的晶体结构。

外生夹杂物检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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