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文章概述：扫描电子显微镜（SEM）：用于观察和分析夹杂物的形貌、大小和分布。
能谱仪（EDS）：可对夹杂物进行元素分析，确定其化学成分。
X 射线衍射仪（XRD）：用于分析夹杂物的晶体结构。
电子探针（EPMA
扫描电子显微镜（SEM）：用于观察和分析夹杂物的形貌、大小和分布。
能谱仪（EDS）：可对夹杂物进行元素分析，确定其化学成分。
X 射线衍射仪（XRD）：用于分析夹杂物的晶体结构。
电子探针（EPMA）：能对夹杂物进行微区成分分析。
金相显微镜：用于观察金属材料的微观组织结构，包括夹杂物。
