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文章概述：电子天平：用于测量样品的质量。
激光粒度分析仪：用于分析脱泥锥的粒度分布。
X 射线衍射仪：用于分析脱泥锥的物相组成。
扫描电子显微镜：用于观察脱泥锥的表面形貌。
热重分析仪
电子天平：用于测量样品的质量。
激光粒度分析仪：用于分析脱泥锥的粒度分布。
X 射线衍射仪：用于分析脱泥锥的物相组成。
扫描电子显微镜：用于观察脱泥锥的表面形貌。
热重分析仪：用于分析脱泥锥的热稳定性。
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