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文章概述：X 射线荧光光谱仪：用于分析材料中的元素成分，可以检测涂敷铝的厚度和成分。
扫描电子显微镜：能够观察涂敷铝的表面形貌和微观结构。
能谱仪：与扫描电子显微镜配合使用，可进行元素
X 射线荧光光谱仪：用于分析材料中的元素成分，可以检测涂敷铝的厚度和成分。
扫描电子显微镜：能够观察涂敷铝的表面形貌和微观结构。
能谱仪：与扫描电子显微镜配合使用，可进行元素分析。
涡流测厚仪：专门用于测量非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度，如涂敷铝。
