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突变型折射率分布检测仪器

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文章概述:反射计:用于测量反射光的强度和相位,以确定折射率分布的变化。
干涉仪:通过测量干涉条纹的变化来检测折射率分布的突变。
光谱分析仪:可以分析光的波长和强度分布,从而检测折射率

反射计:用于测量反射光的强度和相位,以确定折射率分布的变化。

干涉仪:通过测量干涉条纹的变化来检测折射率分布的突变。

光谱分析仪:可以分析光的波长和强度分布,从而检测折射率的变化。

激光扫描仪:用于扫描样品表面,获取折射率分布的信息。

显微镜:结合特殊的光学技术,可以观察和分析折射率分布的微观结构。

突变型折射率分布检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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