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文章概述：使用光学显微镜观察凸起点的形状、大小和分布情况。
通过扫描电子显微镜（SEM）获取凸起点的高分辨率图像，以便更详细地分析其表面特征。
利用原子力显微镜（AFM）测量凸起点的高度和
使用光学显微镜观察凸起点的形状、大小和分布情况。
通过扫描电子显微镜（SEM）获取凸起点的高分辨率图像，以便更详细地分析其表面特征。
利用原子力显微镜（AFM）测量凸起点的高度和粗糙度等参数。
采用 X 射线衍射（XRD）技术确定凸起点的晶体结构。
使用能量色散谱（EDS）或 X 射线光电子能谱（XPS）分析凸起点的化学成分。
借助荧光显微镜或拉曼光谱仪检测凸起点是否存在特定的荧光或拉曼信号。
