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透射强度检测方法

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文章概述:X 射线衍射分析:通过测量 X 射线在晶体中的衍射强度来确定晶体结构和化学成分。
电子显微镜:用于观察和分析材料的微观结构,包括晶体结构、缺陷和颗粒大小等。
光谱分析:如紫外-

X 射线衍射分析:通过测量 X 射线在晶体中的衍射强度来确定晶体结构和化学成分。

电子显微镜:用于观察和分析材料的微观结构,包括晶体结构、缺陷和颗粒大小等。

光谱分析:如紫外-可见光谱、红外光谱等,可用于分析材料的化学成分和分子结构。

荧光光谱分析:用于检测材料中的荧光物质,可用于生物医学、材料科学等领域。

拉曼光谱分析:用于分析材料的分子结构和化学键,可用于材料科学、化学等领域。

核磁共振谱分析:用于分析材料中的原子核磁共振信号,可用于化学、生物医学等领域。

热分析:如差热分析、热重分析等,可用于分析材料的热稳定性和热分解过程。

电导率测试:用于测量材料的电导率,可用于材料科学、电子工程等领域。

硬度测试:用于测量材料的硬度,可用于材料科学、机械工程等领域。

拉伸测试:用于测量材料的拉伸强度和伸长率,可用于材料科学、机械工程等领域。

透射强度检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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